對半導體產業而言，確保晶片品質與可靠度，在現今複雜且高度整合的開發設計與製造過程中愈加重要，也密切影響著產品能否準時上市。因此 SEMICON Taiwan 2024 特別設立「測試專區」，聚焦 AI 晶片、車用晶片測試、系統級封裝、類比及混合訊號 IC 測試、多核心微處理器測試、內建自我測試及修復技術 、記憶體測試，提供完整的技術交流平台。久元電子作為半導體代工及檢測儀器、設備銷售廠，今年以「賦能 AI 無極限」為主題，在「測試專區」展示高效能 SoC IC 測試方案等亮點產品。
在 SEMICON Taiwan 2024，久元電子主要展示產品為 SoC IC 測試方案「S300」，其 I／O Channel 可以達到 2048 的數量，測試速度更達 200 MHz。S300 在 Multi-Site 的效率也相當優異，最高可以達 1024 site 的平行測試（parallel test），久元電子的專家介紹：「S300 還有一個特點，它的應用電路區域在業界最大，Pattern 的深度為 768 m，也是業界最深。至於實際應用，PCIe 控制器還有 SSD 控制器的製造商因為需要更大深度的 Pattern，所以採用 S300 具備一定的優勢，而透過電腦控制介面，還可以執行對中間 IC 待測物，以及類比積體電路送電等測試項目。」
老化測試系統「YT8010／YT8011」模擬產品實際使用情況，偵測故障並確保產品的可靠性
IC 製造完成後，除了需要對產品本身進行檢測，也要持續透過老化測試（TDBI），以確保產品的可靠性與壽命符合期望，因此久元電子推出 IC 老化測試方案 YT8010／YT8011。久元電子專家說明，「在高溫烘烤測試，運作時間通常為 1000 小時，工作人員可能不知道檢測過程中的實際情形，所以會透過兩次斷點進行回測，分別於 168 小時、500 小時，以及最後的 1000 小時確認 IC 狀況是否正常。在低溫測試的部分，則是檢測 IC 的壽命可以使用到幾年，例如有人拿到手機機王，有些人拿同一款手機卻可以使用 5 年、10 年，現在透過 IC 測試就可以計算出手機的使用壽命。」
而在產品設計上，YT8010／YT8011 的烤箱有兩個區域，每個區域都有單獨的溫度控制和 16 個燒成板槽，每個插槽可以加載不同的模式，YT8010／T8011 還具備靈活的系統軟體與友善的介面，讓使用者透過螢幕，能夠以「一切二」的方式高效控制左右兩側的機台。久元電子專家補充：「把 IC 放進 YT8010／YT8011 會出現兩種情況，一種是很簡單的上電，另一種是我們會放置通訊協議等資料進去，並透過 Pattern 的方式數位化，藉由電腦設定直接執行。」
久元電子於展會現場也展示 IC 測試分類機「YT 6180」、QFN IC／Light Sensor／ToF Sensor 測試包裝解決方案「YT 6210」等設備，「久元電子提供全方位的半導體後段代工服務，也憑藉堅韌的軟硬體實力，研發、製造、銷售自有設備，滿足客戶的測試需求，未來將會持續整合業務，讓設備陣容成為更完整的一條龍服務。」
（首圖來源：久元電子提供）
